[5]번 논문 Radon-based Feature 개수 확인

2020-iuc-sw-skku / LSC-Systems

산학협력프로젝트: 머신러닝 기반 Wafer Map Defect Pattern Identification

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[5]번 논문 Radon-based Feature 개수 확인 #21

Open Yunjong-Boo opened 4 years ago

Yunjong-Boo commented 4 years ago

(주영) (1) 라돈 변환 (2) -15° 부터 15° 까지의 투영 결과 추출 → 31개의 1차원 데이터 (3) 각 1차원 데이터에서 Max (최댓값), Min (최솟값), Average (평균), Standard Deviation (표준편차) 추출 → 31x4 = 124 개의 특성

124 개의 특성 = Max 31개 + Min 31개 + Average 31개 + Standard Deviation 31개

dotoleeoak commented 4 years ago

RMS, waveform, impulse 추가 적용?

ssupecial commented 4 years ago

RMS는 가능 waveform, impulse는 더 찾아봐야 함