2020-iuc-sw-skku / LSC-Systems

산학협력프로젝트: 머신러닝 기반 Wafer Map Defect Pattern Identification
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LNPP accuracy #23

Closed HyeonjinChoi closed 4 years ago

HyeonjinChoi commented 4 years ago

image (Defect detection results of LNPP-based H chart) image (Defect detection rates (%) of LNPP-based H chart)

97.3% 확인

단, 이는 단순히 정상 웨이퍼 맵과 비정상 웨이퍼 맵을 구분할 때 얻는 정확도. LNPP만으로는 비정상 웨이퍼 맵의 라벨까지는 확인 불가 -> JLNDA 사용

LNPP는 JLNDA를 사용하기 위한 준비 단계에 가까움. 즉, LNPP와 JLNDA의 정확도를 비교하는 것은 무의미. LNPP와 PCA를 서로 비교하는 것이 바람직.