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2020-iuc-sw-skku / LSC-Systems

산학협력프로젝트: 머신러닝 기반 Wafer Map Defect Pattern Identification
8 stars 3 forks source link

HMM #8

Closed dotoleeoak closed 4 years ago

dotoleeoak commented 4 years ago

은닉마코프모델 (설명)
높은 성능은 기대되지 않지만 시도해보기로...
앙상블 기법 적용도 가능할 듯?